Пластина метрологічна ПМ-65 (ПМ65, ПМ 65) набір з 4 пластин

Пластина метрологічна ПМ-65 (ПМ65, ПМ 65) набір з 4 пластин

Пластина метрологічна ПМ-65 (ПМ65, ПМ 65) набір з 4 пластин від компанії ТОВ АЛЬТАВІРА - Прилади КВП, лабораторне, випробувальне обладнання - фото 1
1 ₴
Мін. сума замовлення 100 ₴
Немає в наявності

Доставка

Детальніше про доставку

Оплата

Характеристики

Країна виробництва
Україна
Производитель
Лыткаринский завод оптического стекла
Состояние
Новое

Опис

Пластины метрологические

ПМ-15 (ПМ15), ПМ-40 (ПМ40), ПМ-65 (ПМ65), ПМ-90 (ПМ90)

Пластины стеклянные, метрологические ПМ-15 (ПМ15), ПМ-40 (ПМ40), ПМ-65 (ПМ65), ПМ-90 (ПМ90) предназначены для проверки интерференционным методом плоскостности и взаимной параллельности поверхностей микрометров и скоб.

Плоскопараллельные стеклянные пластины ПМ-15 (ПМ15), ПМ-40 (ПМ40), ПМ-65 (ПМ65), ПМ-90 (ПМ90) имеют форму круглых прямых цилиндров с полированными торцевыми поверхностями, являющимися измерительными.

Для проверки инструментов с разными пределами измерений пластины изготавливаются четырех типоразмеров: ПМ-15 (ПМ15), ПМ-40 (ПМ40), ПМ-65 (ПМ65), ПМ-90 (ПМ90). Пластины комплектуются по 4 штуки в набор.

Материал пластин - стекло марки К8 ГОСТ 3514-76.

Технические характеристики ПМ-15 ПМ-40 ПМ-65 ПМ-90
Диаметр пластин, мм 30±1 30±1 40±1 50±1
Высота пластин, мм 15 40 65 90
Предел измерений, мм 0-25 25-50 50-75 75-100
Отклонение от взаимной параллельности измерительных плоскостей не превышает, мкм 0,6 0,8 0,8 1
Отклонение от плоскостности измерительных плоскостей не превышает, мкм ±0,1 ±0,1 ±0,1 ±0,1
Местное отклонение от плоскостности не более, мкм ±0,03 ±0,03 ±0,03 ±0,03